熒光壽命成像 (FLIM)通過建立檢測到的熒光事件的直方圖來確定壽命。可顯示單指數或多指數熒光衰減。數值曲線擬合表示熒光壽命和振幅（即檢測到的光子數）。由于FRET減少了供體壽命，因此如果無FRET的供體壽命已知，就可以量化FRET發生的程度。該供體壽命τ作為分析FRET樣品的一定參考。因此，FLIM-FRET為內部參照—這一特點減少了基于強度測量FRET時的很多缺點。由于其熒光壽命是染料的固有特性，因此對其他不利影響（如光漂白、圖像明暗處理、不同濃度或表達水平）具有普遍的不變性。使用基于強度的FRET測量的主要限制是所有可觀察的供體分子都經歷FRET的基本假設。通常情況并非如此。供體分子這種變化的“非結合”組分給測量的FRET效率帶來了相當大的不確定性，使得無法在實驗之間進行比較。熒光壽命成像克服了這一缺點。熒光壽命成像這種技術相對較新，涉及到同時在圖像的每個像素處確定熒光衰減時間的空間分布。杭州紅外熒光壽命成像批發

熒光壽命成像在生物醫學研究和臨床診斷應用中的許多場合都對多光譜分辨提出特殊要求，如在FRET測量中，要求能同時測量供體和受體的熒光強度隨時間的衰減，多光譜分辨的熒光壽命成像提供了一種新的定量研究手段．目前，基于門控像增強器的多光譜寬場FLIM 技術一次只能獲得至多兩個譜段的熒光壽命圖像，而基于TCSPC的多光譜分辨FLIM的成像速度又很低，這些都限制了其應用范圍．目前的一個研究方向是，發展光譜分辨率高、成像速度快、價格低廉的多光譜分辨熒光壽命成像顯微技術。杭州紅外熒光壽命成像批發時域和頻域技術在各種熒光顯微壽命成像平臺中都有應用。

在種類繁多的顯微技術中，熒光壽命顯微成像技術（FLIM）具有對生物大分子結構、動力學信息和分子環境等進行高分辨高精度測量的能力，因此其重要性日漸提升，被普遍地應用于生物學研究及臨床診斷等領域。熒光的特性包含有：熒光激發和發射光譜、熒光強度、量子效率、熒光壽命等,其中，熒光壽命是指熒光分子在激發態上存在的平均時間（納秒量級）。分子的熒光壽命在幾納秒至幾百納秒之間，因此，測量熒光壽命需要極快響應時間的探測器。熒光壽命成像的發展很好地彌補了基于強度成像的問題，對生物醫學檢測有著重要的意義。

熒光壽命成像有幾點優勢：1.不需要考慮跳色的影響，從而免去了計算和去除跳色雜質信號的麻煩；去除跳色雜質的準確性很大程度上依賴于信噪比、成像流程的設計和控制、以及跳色信號估算的算法，這些因素使得通過穩態光強度測量熒光壽命成像的精確度在很多時候受到質疑。2.穩態光強度的熒光壽命成像測量很容易受熒光標記光漂白或是激發光散射背景的影響,而這些因素對FLIM-FRET的測量影響相對較低。3.熒光壽命成像可以定量的區分參與FRET和沒有參與FRET的分子數量，這樣深入的定量分析是穩態光強度方法做不到的。熒光壽命成像是一種重要的熒光顯微鏡技術。

熒光壽命成像系統是一種用于化學領域的分析儀器，熒光壽命成像可以在體現熒光物質形貌信息之外，還能夠靈敏地反應熒光基團生化特性以及周圍微環境的變化情況。將熒光壽命成像與共聚焦成像技術結合起來，實現人體三維熒光壽命成像，進一步實現人體三維功能成像奠定基礎，有潛力應用于瘤識別，病變診斷等領域。熒光壽命是熒光基團在通過發射熒光光子返回基態之前在其激發態下保持平均多長時間的量度。不同熒光基團激發態停時間不同，大多數生物熒光素的熒光壽命時間在 0.2 - 20 ns。熒光壽命檢測經典方法為點對點的時間相關單光子計數（TCSPC），但由于過去檢測硬件的局限和復雜的使用而沒有被普遍地應用于科學研究。隨著技術的發展，在顯微鏡視野內進行超快速全像素熒光壽命信號采集的熒光壽命成像成為可能。熒光壽命成像不需要考慮跳色的影響，從而免去了計算和去除跳色雜質信號的麻煩；杭州紅外熒光壽命成像批發

熒光壽命成像不受染料濃度的影響；杭州紅外熒光壽命成像批發

熒光壽命成像FLIM所面臨的挑戰：在數據處理上，由于曲線擬合迭代過程的需求，計算成本較其他成像方案更高。在成像原理上，熒光壽命受多種外界因素影響，這些因素包括分子相互作用、pH值、溫度和粘滯阻力等，很難對這些參數控制變量，使得測量熒光壽命存在交叉干擾問題。此外，與普通光學顯微技術類似，介質光散射影響成像信噪比及空間分辨率，成像深度受到限制。FLIM已經在系統裝置、熒光探針和數據處理算法等方面得到了較快的發展，這也使得熒光壽命成像FLIM在對細胞微環境成像和生物代謝監測發揮出不可替代的作用。結合多種先進成像系統，如雙光子成像、結構光照明等，可進一步提升熒光壽命成像FLIM的分辨率和測量精度。另一方面，提升熒光壽命解調的算法性能，將壓縮感知、深度學習等熱點算法與FLIM結合，也同樣對FLIM的發展起著至關重要的作用。總的來說，熒光壽命成像FLIM的發展很好地彌補了基于強度成像的問題，對生物醫學檢測有著重要的意義。杭州紅外熒光壽命成像批發

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